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大米外觀檢測(cè)儀型號(hào):DP-SCE參數(shù)

更新時(shí)間:2016-04-16點(diǎn)擊次數(shù):1318

大米外觀檢測(cè)儀/稻米分析儀米質(zhì)判定儀 型號(hào):DP-SCE
1、用途:用于各種類(lèi)大米(米、糙米、糯米等)各項(xiàng)外觀標(biāo)的自動(dòng)檢測(cè),可行多參數(shù)、批量化的自動(dòng)分析。
2、系統(tǒng)組成:雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦(電腦另配)。
3、主要性能標(biāo):
★配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長(zhǎng)的雙光源彩色掃描儀來(lái)成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透掃幅面30 cm×20 cm,zui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自動(dòng)次性測(cè)量分析30g以上大米樣品的:堊白度/率、碎米率及小碎米率、整米數(shù)量、整米率、大米透明度、黃粒米、雜質(zhì)量、異品種粒、不善粒(未成熟粒),及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動(dòng)分析大米的碾米度、裂紋率,以及糙米胚芽率。
自動(dòng)測(cè)量每粒的面積、長(zhǎng)徑、短徑、長(zhǎng)寬比、圓度、等效直徑(長(zhǎng)度測(cè)量誤差≤±0.05mm,長(zhǎng)寬比測(cè)量誤差≤±0.05,重現(xiàn)性誤差≤±0.02;整米率、碎米率標(biāo)測(cè)量誤差≤±1.0%、重現(xiàn)性誤差≤±0.25%)。可大批量自動(dòng)分析處理與輸出結(jié)果。與標(biāo)GB/T1350稻谷、GB/T17891稻谷或GB1354大米、農(nóng)業(yè)新標(biāo)準(zhǔn)【大米】NY/T2334-2013等標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng),檢測(cè)各項(xiàng)標(biāo)的重量比和粒數(shù)比。各分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存,分析結(jié)果輸出至Excel表,可輸出分析標(biāo)記圖。
★具有自動(dòng)學(xué)習(xí)與識(shí)別特性,可自動(dòng)分割粘連的大米、種粒,可做自動(dòng)分類(lèi)分析。
★具有樣本條碼、電子天平RS232數(shù)據(jù)軟件接口。可兼測(cè)的種粒直徑范圍0.3-20mm(zui厚15 mm),自動(dòng)測(cè)量度≥99%,交互修正后準(zhǔn)確率達(dá)。
注:本標(biāo)書(shū)中打★款項(xiàng)響應(yīng),否則為重大偏離
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