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當前位置:首頁技術文章ROHS及無鹵素測試儀 型號:DP-x-5600

ROHS及無鹵素測試儀 型號:DP-x-5600

更新時間:2017-09-25點擊次數:1061

ROHS及無鹵素檢測儀 ROHS及無鹵素測試儀 型號:DP-x-5600

產品詳情: 

DP-X-5600是種體現X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。可行無鹵素(氯Cl、溴Br、碘I)測量它采用低率小型X光管為激發源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發的應用軟件,充分發揮各件的優異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。

 

整機規格:

激發源:本機采用低率 X 射線管(Ag靶),zui電壓可達50KV,zui大電流1mA

壓電源:zui大50W,50KV,1mA

探測器:電制冷   Si PIN半導體探測器(55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優于149eV)

多道分析器:2048道

軟件:基于WINDOWS的強大作軟件。定量分析包括:經驗系數法,理論a系數法和基本參數法。定性分析包括: KL線標記,譜圖和光標尋峰等。客戶可行二次開發,自行開發意多個分析方法。

6電源:交流220V  50Hz

7體積:520mm  x  600mm  x  270mm

8重量:約 42kg  (主機)

 

整機性能:

測量元素范圍寬:從鋁(13)至鈾(92)都可測量

可測量含量范圍,從ppm至

測量速度快,通常為幾十秒到幾分鐘

多元素同時定性定量

蜂位漂移:八小時小于1%

 

口探測器的性能標:

探測器類型:電制冷Si-PIN

探測面積:2.4x2.8mm(6mm2)

硅活化區厚度:500um

探測器分辨率: 對于55Fe,@5.9keV  對于12us的形成時間,半寬為149Ev

探測器窗口:鈹窗,12.5um厚

 

口壓電源規格:

電壓和電流從零至滿量程連續可調,zui大50KV,1mA

電壓調整率:負載調整率:從空載到滿載,電壓變化為滿量程的 0.01 %

線性調整率:對于規定的輸入電壓范圍,該數值為滿量程的0.01%

電流調整率:負載調整率:從空載到滿載,電流變化為滿量程0.01%

              線性調整率:對于規定的輸入電流范圍,該數值為滿量程的0.01%

穩定性:經過半小時預熱后,每8小時變化不0.05%

溫度系數:溫度變化度,電壓變化不過0.01%

 

詳細參數:

測量范圍:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl

測量度:低于100ppm時度15ppm,大于100ppm時,度15%

分析元素:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl

檢出限:Pb:3.2 mg/kg (ppm)

          Hg:3.2 mg/kg (ppm)

          Cr:4.1 mg/kg (ppm)

          Cd:5.8 mg/kg (ppm)

          Br:3.1 mg/kg (ppm)

          Cl:2.4 mg/kg (ppm)

測量時間:30秒——120秒可選

X射線源:X光管

作環境溫度:10℃——45℃

作環境濕度:20%——80%

壓器:50Kv

操作系統:windows XP